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다중 입력 변화의 시간적 근접성을 고려한게이트 지연 시간 모델
A Gate Delay Model Considering Temporal Proximity of Multiple Input Switching
- 신장혁;
- 김주호
초록
기존의 셀 특성 분석은 다중 입력 변화를 고려하지 않고 셀 특성 분석을 수행한다. 다중 입력 변화가 시간적 근접성에 따라 게이트 지연 시간에 미치는 영향이 커지면서, 기존의 셀 특성 분석으로는 정확한 게이트 지연 시간을 예측하기가 어려워지게 되었다. 다중 입력 변화의 영향으로 인하여 게이트 지연 시간이 최대 46%까지 차이가 나는 것을 실험을 통하여 확인하였다. 본 논문에서는 다중 입력 변화의 시간적 근접성으로 인한 지연 시간 변화를 고려한 게이트 지연 시간 모델을 제안하였다. 제안된 모델은 Radial Basis Function (RBF)을 이용하여 지연 시간 변화량을 계산한다. 제안된 방법이 다중 입력 변화가 발생하였을 때, 보다 정확하게 게이트 지연 시간을 예측하는 것을 실험결과를 통하여 확인하였다.
키워드
delay model; multiple input switching; temporal proximity; cell characterization
- 제목
- 다중 입력 변화의 시간적 근접성을 고려한게이트 지연 시간 모델
- 제목 (타언어)
- A Gate Delay Model Considering Temporal Proximity of Multiple Input Switching
- 저자
- 신장혁; 김주호
- 발행일
- 2010-02
- 저널명
- 전자공학회논문지 - SD
- 권
- 47
- 호
- 2
- 페이지
- 32 ~ 39